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11851-1106背照弎/strong>CCD面阵传感?/strong>
降低标准具效应、象元温度恒温控刵span>
S11850-1106/11851-1106是适用于分光光度测量的背照弎span>CCD。两种类型可选，一种是低噪声类垊span>(S11850-1106)，一种是高速型(S11851-1106)，它们都降低了标准具效应。从紫外到近红外波段，它们具有几乎平滑的光谱响应特性，还有着高量子效率。封装内部有热电制冷器，可以保持象元温度在工作时恒定（约5摄氏度）、span>
特?span>
-降低标准具效库span>
-平滑的响应曲纾span>
-一级温度控刵span>
- CCD结灵敏度高：8 V/e-
-高满井容量，宽动态范围（带抗溢流功能（/span>
详细参数
类型 |
低标准具效应垊/span> |
感光面积 |
28.672 x 0.896 mm |
像素尺寸 |
14 x 14 m |
像素间距 |
14 m |
有效像素个数 |
2048 x 64 pixels |
封装 |
金属 |
帧速率（典型值） |
651 frames/s |
光谱响应范围 |
200 to 1100 nm |
饱和电荷量（垂直（/span> |
60 ke- |
暗电流（典型值） |
50 e-/pixel/s |
读出噪声（典型值） |
23 e- rms |
测试条件 |
Ta=25℃，除非注明，均为典型值。帧速率:满线合并＇span>full line binning），暗电?span>: MPP模式 |
以上是关亍b>11851-1106背照式CCD面阵传感?/b>的详细介绍，产品田b>深圳市钛创光电科技有限公司为您提供，如果您寸b>深圳市钛创光电科技有限公司产品信息感兴趣可?a class="checkContactWay" href="">联系供应啅/a>，您也可以查看更多相关的产品?/p>
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